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光学轴类测量仪的原理是什么

发布时间:2023-09-04浏览次数:114

  光学轴类测量仪的原理是什么?光学轴类测量仪的原理基于光学的干涉和衍射现象。其测量精度依赖于光波的波长,因此通常使用可见光波来进行测量。


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  测量过程中,光源发出的光线经过透镜成为平行光线,然后射到被测物体上。被测物体上的特定标记或标尺会引起光线的干涉或衍射现象,形成干涉条纹或衍射图样。


  光学轴类测量仪中的检测器会接收到被测物体上的干涉或衍射光信号,并将其转化为电信号。根据电信号的变化,可以通过计算和数据处理得出被测物体的轴线精度和直线度等参数。


  根据具体的测量需求和仪器设计,光学轴类测量仪可以采用不同的光学元件和技术。常见的光学原理包括激光干涉法、多点投影法、干涉比较法等。这些原理都利用了光的干涉和衍射特性,通过测量干涉或衍射图样的变化来实现轴类参数的测量。

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